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  • JW-EDX6000E荧光光谱仪

    荧光光谱仪 1.5.1 EDX6000E可专门针对金属镀层厚度进行分析。 1.5.2打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器简洁大方。 1.5.3采用美国最新型的Si-pin探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.5.4采用自主研发的SES信号处理系统,有效提高测量的灵敏度,测量更精确。 1.5.5七种光路校正准直系统

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    产品价格:面议
    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2025-04-11
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